涂層測(cè)厚儀影響測(cè)量精度的原因

1、覆蓋層厚度大于25時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;

2、基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);

3、任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響;

4、對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的；

5、試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;

6、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度,粗糙度增大,影響增大;

7、對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測(cè)量前應(yīng)清除測(cè)頭和覆蓋層表面的污物;

涂層測(cè)厚儀如何使用才可避免降低誤差

1、在使用涂層測(cè)厚儀測(cè)量的時(shí)候，盡量使用被測(cè)材料來(lái)作為調(diào)零的基體，以避免由于不同的材料而導(dǎo)致導(dǎo)磁性不同，而出現(xiàn)測(cè)量誤差。等到在被測(cè)材料的同一部位調(diào)零以后，再進(jìn)行相同部位的測(cè)量，如在測(cè)量工件邊緣及中間部分時(shí)應(yīng)當(dāng)分別調(diào)零。

2、在利用儀器進(jìn)行測(cè)量的時(shí)候，還應(yīng)當(dāng)注意探頭和被測(cè)料面保持垂直，以免產(chǎn)生大的誤差。若是測(cè)量的同一個(gè)點(diǎn)，可將探頭每次都離開(kāi)10公分以上，間隔幾秒以后再進(jìn)行測(cè)量，以免被測(cè)材料探頭磁化而影響測(cè)量結(jié)果。

3、作為調(diào)零用的表面需要盡量保持光滑，如果表面不光滑，應(yīng)當(dāng)視情況取平均值，因?yàn)楸砻娲植诙葘?duì)測(cè)量的數(shù)值影響較大。結(jié)構(gòu)不同應(yīng)分別進(jìn)行調(diào)零測(cè)量，平面調(diào)零測(cè)量平面，測(cè)量凹面調(diào)零后測(cè)量，測(cè)量凸面調(diào)零后進(jìn)行測(cè)量，避免由于結(jié)構(gòu)不同而在測(cè)量上產(chǎn)生誤差。

涂層測(cè)厚儀是利用磁感應(yīng)和電渦流原理無(wú)損檢測(cè)金屬工作上的涂層或電鍍層的厚度。林上科技自主研發(fā)生產(chǎn)的儀器為鐵鋁兩用涂層測(cè)厚儀，無(wú)需切換，儀器自動(dòng)識(shí)別基材，操作更加簡(jiǎn)便。不同儀器的測(cè)量范圍都不一樣，滿足多種測(cè)量需求，量程可以測(cè)到5mm。同時(shí)儀器的精度都與尼克斯的精度一致，LS221及LS223采用外置連接式探頭，適用于測(cè)試環(huán)境比較狹窄，可將探頭伸入測(cè)試點(diǎn)測(cè)試，主機(jī)在外方便讀數(shù)。