市面上鍍層測(cè)厚儀的種類(lèi)有很多。不同的儀器測(cè)量精度和測(cè)量的材料也不盡相同。很多儀器都是使用一種單一的測(cè)量原理，而x射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀則與眾不同，它是綜合了各種測(cè)試原理。

一、x射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀和測(cè)試原理：

其測(cè)量方法主要有X射線(xiàn)熒光法、電解法、電容法、楔切法、厚度差測(cè)量法、光截法、β射線(xiàn)反向散射法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這里我們重點(diǎn)介紹一下X射線(xiàn)熒光法。X射線(xiàn)熒光法具體是指通過(guò)射線(xiàn)激發(fā)各種物質(zhì)的X射線(xiàn)特征，使其中的激元素產(chǎn)生X射線(xiàn)（即熒光）。使用X射線(xiàn)熒光測(cè)量?jī)x測(cè)量并記錄樣品中X射線(xiàn)的照射量率，從而確定樣品的成分和目標(biāo)元素的測(cè)量方法。

簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)就是測(cè)量x射線(xiàn)強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)片得出各種物質(zhì)的厚度，這種厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系在后臺(tái)軟件形成曲線(xiàn)。各種物質(zhì)的強(qiáng)度值增加厚度值也增加（但不是絕對(duì)關(guān)系），通過(guò)標(biāo)樣、軟件以及算法得到接近實(shí)際值對(duì)應(yīng)關(guān)系的曲線(xiàn)。

二、x射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀的特點(diǎn):

這種操作方法可進(jìn)行原位測(cè)量方法特點(diǎn)是簡(jiǎn)單、快速，可以現(xiàn)場(chǎng)獲得目標(biāo)元素的含量劃分礦與非礦的界限?？梢匀看婊蛘卟糠执婵滩廴印２粌H可以測(cè)量金屬表面的涂層厚度也可以測(cè)量非金屬表面的涂層厚度。海底X射線(xiàn)熒光測(cè)量和放射性同位素X射線(xiàn)熒光測(cè)井也得到了較大的發(fā)展。

三、《X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范》：

《X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范》中對(duì)以下3項(xiàng)內(nèi)容做了要求。

1、厚度測(cè)量重復(fù)性。實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差必須除以?xún)x器10次測(cè)量算數(shù)平均值的百分?jǐn)?shù)作為儀器厚度測(cè)量重復(fù)性。

2、示值漂移。選用一塊標(biāo)準(zhǔn)片，每15分鐘測(cè)量一次、每組測(cè)量10次，共測(cè)量5組。測(cè)量結(jié)果中最大最小差值除以厚度標(biāo)準(zhǔn)片的實(shí)際厚度值的百分?jǐn)?shù)即為儀器示值的穩(wěn)定性。

3、厚度測(cè)量示值誤差。選取1-5個(gè)標(biāo)準(zhǔn)塊分別對(duì)每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)塊測(cè)量3次計(jì)算平均值，各個(gè)點(diǎn)位的算數(shù)平均值與標(biāo)準(zhǔn)塊的實(shí)際差值即為該點(diǎn)的示值誤差。

四、X射線(xiàn)涂鍍層測(cè)厚儀的品牌廠(chǎng)家以及價(jià)格：

X射線(xiàn)涂鍍層測(cè)厚儀的國(guó)外品牌廠(chǎng)家有：

1、英國(guó)牛津

英國(guó)品牌廠(chǎng)家牛津，代表性產(chǎn)品CMI900 X熒光鍍層測(cè)厚儀。價(jià)格大概在24萬(wàn)左右。

2、日本日立

日本品牌廠(chǎng)家日立，代表性產(chǎn)品FT50微束XRF涂鍍層材料分析儀。價(jià)格大概在6666元。

3、德國(guó)品牌菲希爾

德國(guó)品牌廠(chǎng)家菲希爾，代表性產(chǎn)品 FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL X射線(xiàn)光譜儀。價(jià)格大概為30萬(wàn)。

4、韓國(guó)微先鋒鍍層測(cè)厚儀

韓國(guó)品牌廠(chǎng)家Micro Pioneer,代表性產(chǎn)品有XRF-2000L.價(jià)格大概為1000元

X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀是涂層測(cè)厚儀的一種，由于其設(shè)計(jì)原理比較復(fù)雜、功能強(qiáng)大所以X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀比普通的儀器價(jià)格也高出很多。以上便是儀器的相關(guān)信息，希望能對(duì)您提供幫助。