真空鍍膜在線測(cè)厚儀基于材料在特定波長(zhǎng)光下的透過率或光密度與鍍層厚度呈一定比例關(guān)系的原理,通過監(jiān)測(cè)材料的光學(xué)透過率來達(dá)到監(jiān)控材料鍍層厚度及其均勻性的目的。鍍層越厚,光密度越高,透過率越低。
對(duì)于任何光線可透過的材料,都可以通過監(jiān)控透過率來控制產(chǎn)品質(zhì)量。該設(shè)備能夠?qū)崟r(shí)在線測(cè)量產(chǎn)品涂鍍層的厚度,幫助在生產(chǎn)過程中及時(shí)掌握和監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量,及早發(fā)現(xiàn)問題并調(diào)整工藝,從而提高產(chǎn)品品質(zhì),降低廢品率。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于卷繞真空鍍膜、玻璃鍍膜、玻璃生產(chǎn)線、涂布生產(chǎn)線等領(lǐng)域。



注:LS153真空鍍膜在線測(cè)厚儀為L(zhǎng)S152升級(jí)型號(hào)。LS152一個(gè)控制器控制3組探頭,信號(hào)由控制器處理;LS153信號(hào)在探頭中處理,無需控制器。
尺寸及監(jiān)測(cè)點(diǎn)數(shù)可定制
用戶可以根據(jù)機(jī)器自由選擇測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量,最多可定制45個(gè)測(cè)試點(diǎn)。設(shè)備的實(shí)際長(zhǎng)度以定制的測(cè)試點(diǎn)數(shù)量為準(zhǔn)。
下圖為L(zhǎng)S153在線測(cè)厚儀外觀,9個(gè)測(cè)試點(diǎn),帶人機(jī)界面和報(bào)警燈。

RS485通訊接口/MODBUS通訊協(xié)議
LS153真空鍍膜在線測(cè)厚儀提供雙路的RS485通訊接口,標(biāo)準(zhǔn)的MODBUS通訊協(xié)議,方便和PLC、單片機(jī)、人機(jī)界面、組態(tài)王、電腦等通訊。
鍍膜機(jī)可以直接讀取此設(shè)備的測(cè)量結(jié)果數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)控制自動(dòng)化(閉環(huán)控制)。

結(jié)構(gòu)組成
LS153真空鍍膜在線測(cè)厚儀油測(cè)控主機(jī)、人機(jī)界面控制箱、電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控軟件(選配)三部分組成
測(cè)控主機(jī)
主要包含光源探頭、接收探頭、接線盒、鋁型材機(jī)架。


獨(dú)立數(shù)字探頭設(shè)計(jì),使用安裝簡(jiǎn)單
一組探頭包含光源探頭和接收探頭,探頭的光孔面和側(cè)面各4個(gè)安裝螺孔,方便安裝

人機(jī)界面控制箱
人機(jī)界面控制箱有3種款式供選擇,分別是:嵌入式、壁掛式和臺(tái)式
(在訂購時(shí)會(huì)提供詳細(xì)圖紙供確認(rèn))
電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)(選配)
所有測(cè)試點(diǎn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)監(jiān)控,包含實(shí)時(shí)顯示、柱狀圖、上下限值設(shè)定、實(shí)時(shí)曲線,越限報(bào)警等。透過率與光密度的顯示可自由切換。

LS153透過率顯示界面

LS153光密度顯示界面

LS153柱狀圖顯示界面

LS153設(shè)置界面
測(cè)控主機(jī)尺寸及安裝方式
控制器和測(cè)試探頭內(nèi)嵌于測(cè)控主機(jī)內(nèi),安裝時(shí)只需要固定測(cè)控主機(jī)即可。每臺(tái)設(shè)備均配有安裝支架,安裝支架根據(jù)客戶的實(shí)際安裝需求進(jìn)行定制。

LS153可特殊定制的最小尺寸示意圖

產(chǎn)品特點(diǎn)
超小數(shù)字探頭,使用和安裝超級(jí)簡(jiǎn)單,只需連接6根線。
光學(xué)非接觸式測(cè)量,不直接接觸測(cè)試材料,不會(huì)對(duì)材料造成傷害。
RS485接口+MODBUS通訊協(xié)議,方便和PLC,單片機(jī),人機(jī)界面,組態(tài)王,電腦等通信,可與鍍膜機(jī)通訊實(shí)現(xiàn)閉環(huán)控制。
測(cè)量精度高,可媲美德國(guó)NAGY在線測(cè)厚設(shè)備。
模塊設(shè)計(jì),各模塊之間采用航空連接器連接,單點(diǎn)可拆卸,維護(hù)方便快捷。
防塵設(shè)計(jì),粉塵不影響探頭內(nèi)部,只需清潔探頭前端玻璃即可。
越限報(bào)警功能,智能管控生產(chǎn)品質(zhì),減少對(duì)人員的依賴,提升生產(chǎn)效率和品質(zhì)。
儀器具有溫度補(bǔ)償功能,數(shù)值穩(wěn)定,允許在高溫環(huán)境下使用。
儀器具有自動(dòng)校準(zhǔn)功能和人工校準(zhǔn)功能,用戶可根據(jù)需要自由設(shè)置。
配備人機(jī)界面,所有測(cè)試點(diǎn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)監(jiān)控,包含實(shí)時(shí)顯示、柱狀圖、上下閾值設(shè)定、越限報(bào)警、RS485②通信參數(shù)設(shè)定等。透過率與光密度的顯示可自由切換。
儀器參數(shù)
技術(shù)參數(shù) | LS153測(cè)厚儀 |
---|---|
測(cè)量波長(zhǎng) | 850nm紅外線,530nm綠光可選 |
測(cè)量光斑 | 5mm圓形 |
透過率測(cè)量精度 | 優(yōu)于±1% |
透過率分辨率 | 0.005% |
光密度測(cè)量范圍 | 0.00 OD ~ 6.00 OD |
光密度分辨率 | 0.01 for 0.00 - 3.00 OD 0.05 for 3.00 - 5.00 OD 0.15 for 5.00 - 6.00 OD |
最大測(cè)量點(diǎn)數(shù) | 45點(diǎn) |
相鄰探頭之間距離 | 最小35mm |
光源探頭和接收探頭之間距離 | 20mm |
工作溫度 | -10℃ ~ 60℃ |
存儲(chǔ)溫度 | -20℃ ~ 70℃ |
相對(duì)濕度 | 小于85%,不結(jié)露 |
數(shù)據(jù)刷新周期 | 普通模式300ms/快速模式100ms |
通訊接口 | 雙路RS485 |
通訊協(xié)議 | 支持標(biāo)準(zhǔn)MODBUS協(xié)議 |
儀器尺寸 | 長(zhǎng)(根據(jù)客戶要求定制)×寬(80mm)×高(180mm) |
需真空法蘭電極芯數(shù) | 6根(不配電腦監(jiān)控) 9根(配電腦監(jiān)控) |
電源 | 220V AC/50Hz |
產(chǎn)品視頻
真空鍍膜在線測(cè)厚儀操作視頻
行業(yè)解決方案
檢測(cè)普通鍍鋁膜厚度解決方案
鍍鋁膜是通過真空鍍鋁工藝將非常高純度的鋁絲在高溫即溫度在1100°℃~1200°C下蒸發(fā)為氣態(tài),之后在塑料薄膜經(jīng)過真空蒸發(fā)室時(shí),氣態(tài)的鋁分子會(huì)沉淀到塑料薄膜表面,從而形成的光澤度很高的金屬色彩的薄膜。LS153真空鍍膜在線測(cè)厚儀可以一次性檢測(cè)量多,寬幅大,長(zhǎng)度長(zhǎng)的鍍鋁膜。測(cè)試支架安裝在鍍膜機(jī)上,實(shí)現(xiàn)在線自動(dòng)測(cè)試,實(shí)時(shí)監(jiān)控?cái)?shù)據(jù),越限會(huì)報(bào)警,通過RS485傳送給鍍膜機(jī),為鍍膜機(jī)的閉環(huán)控制提供設(shè)備支持。

檢測(cè)硫化鋅鍍膜厚度解決方案
硫化鋅膜主要通過熱蒸發(fā)制備而成。真空鍍膜在線測(cè)厚儀是利用光密度和鍍膜厚度成一定的比例關(guān)系的原理。經(jīng)過監(jiān)測(cè)硫化鋅鍍膜的光學(xué)透過率(光密度)來達(dá)到監(jiān)控其均勻性鍍層厚度的目的,部分廠家使用365nm光源或者530nm光源的方案進(jìn)行硫化鋅膜厚度檢測(cè)。

檢測(cè)鍍銅膜厚度解決方案
鍍銅膜一般應(yīng)用于柔性基材(PET等材料)上,通過使用磁控濺射鍍膜機(jī)將基材表面沉積一層高純無氧銅導(dǎo)電層,使材料表面具有導(dǎo)電、導(dǎo)熱的性質(zhì)。使用真空鍍膜在線測(cè)厚儀可以輕松了解鍍層情況,實(shí)時(shí)調(diào)整鍍膜機(jī)的工藝參數(shù),節(jié)約時(shí)間和成本。

檢測(cè)玻璃透光率解決方案
鍍膜玻璃在線檢測(cè)是一種新型技術(shù),使用真空鍍膜在線測(cè)厚儀能夠?qū)崟r(shí)檢測(cè)生產(chǎn)線上玻璃的膜厚度、均勻性、透光率,能避免生產(chǎn)出低于國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的玻璃產(chǎn)品。實(shí)時(shí)檢測(cè)、實(shí)時(shí)處理能夠避免不必要的損失,節(jié)約成本,提高生產(chǎn)率。

檢測(cè)鍍金箔厚度解決方案
金箔是一種很貴重的材料,在鍍金箔的過程中使用真空鍍膜在線測(cè)厚儀實(shí)時(shí)檢測(cè)金箔厚度是否均勻可以大大減少材料浪費(fèi),節(jié)約成本。儀器采用漫透射原理,使用乳白玻璃法,不僅可以測(cè)試平面透明透光材料,還可以測(cè)試磨砂、乳白色等基材膜上的鍍層厚度均勻性。
